上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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詳細(xì)摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-11-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 輝光放電光譜檢測方法利用低壓，通過氬離子束對(duì)樣品表面均勻?yàn)R射物質(zhì)的非熱能處理技術(shù)。濺射出的物質(zhì)離開樣品表面隨后被原子化并在低壓等離子放電區(qū)域被激發(fā)。LECO G...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-11-08 在線留言
詳細(xì)摘要： Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)，并且...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-11-06 在線留言
詳細(xì)摘要： Talos™ 是新一代 TEM 產(chǎn)品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數(shù)據(jù)，從而專注于研究發(fā)現(xiàn)。Talos 的配置適合開展材料研究和生命科學(xué)研究，是一...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-11-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 自 2005 年推出以來，Titan 便憑借優(yōu)異的產(chǎn)品設(shè)計(jì)以及其被證明能夠帶來突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-11-06 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個(gè)DualBeam系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過程控制實(shí)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡是 FEI *的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在*半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 ...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI MagellanTM系列掃描電子顯微鏡讓科學(xué)家和工程師迅速看到以前無法視及的微觀世界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達(dá)到一納...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Talos F200系列 場發(fā)射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 （STEM） 和 TEM 成像功能與的能量色散 X 射線光譜儀 ...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺(tái)。Sigma500...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、的分辨率以及簡便的操作方式。...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺(tái)，設(shè)計(jì)用來觀測功能性納米材料及其隨著時(shí)間的推移對(duì)氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動(dòng)泵...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-09-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-09-29 在線留言
詳細(xì)摘要： PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-09-14 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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